
研究者發(fā)現(xiàn),以往被用于診斷兒童疾病的一種基因測試(被稱為染色體微陣列芯片測試)可以幫助更好地理解嬰幼兒猝死背后的原因。美國波士頓兒童醫(yī)院的研究員Catherine Brownstein最近在Advanced Genetics上發(fā)表了研究文章,她說:“對我來說,弄清楚一個嬰兒或兒童在沒有預兆的情況下去世的原因是頭等大事。”
在某些情況下,嬰兒和幼兒可能會意外去世,在驗尸分析中也不能發(fā)現(xiàn)明顯的原因。這些在出生后28個月內(nèi)發(fā)生的兒科不明原因猝死(SUDP),可分為嬰兒猝死綜合癥(SIDS)和兒童不明原因猝死。目前,已發(fā)現(xiàn)了一些遺傳方面的因素可能會導致SIDS,然而大多數(shù)SIDS的原因是尚不明確的。
更好地理解病因
在Robert的兒科不明原因猝死項目中,Brownstein和她的同事們幫助那些不幸的父母了解孩子去世的潛在原因,并向他們提供支持與幫助。在早期的研究中,他們發(fā)現(xiàn)一種被稱為外顯子組測序的基因測試可用于辨認某些變異,而這些變異在嬰幼兒猝死的原因中占比約為11%。
在他們最近發(fā)表在Advanced Genetics上的研究中,該團隊試圖確定這些兒童是否擁有被稱為拷貝數(shù)變異的特定遺傳變化,其包括額外的、缺失的或重新排列的DNA片段。Brownstein說:“這些變化一般不能通過外顯子測序來確定。該研究的共同作者Richard Goldstein補充道:“基因的缺失和復制是導致疾病的另一種方式,我們希望使用現(xiàn)有的工具來描述促成這些死亡的因素。”
研究人員使用了一種稱為染色體微陣列的高分辨率技術,嘗試發(fā)現(xiàn)嬰兒和幼兒死亡案例中的拷貝數(shù)變異。Brownstein表示:“這種類型的基因測試已經(jīng)成為自閉癥、發(fā)育障礙及多種先天性異常和癲癇等疾病的一線治療方法。它可以檢測出染色體的片段何時丟失、復制或重新排列,且有可能一次影響多個基因!
該團隊將該研究人群的拷貝數(shù)變異與自閉癥患者和普通人群的拷貝數(shù)變異進行了比較。Brownstein解釋說:“自閉癥是另一種復雜和多因素的疾病,與拷貝數(shù)變異有關,并且有大型公共數(shù)據(jù)庫可供比較。理想情況下,將來我們也有可能會將SUDP與其他疾病進行比較。”
他們研究了116例嬰幼兒猝死病例,發(fā)現(xiàn)其中5例(4.3%)的DNA顯示出致病性變化。在另外9個案例(7.8%)中,研究人員注意到,雖然沒有證實會導致疾病,但其致病性比良性更強。這意味著有更多理由相信這些變異可能導致疾病,而非完全無害的。Brownstein表示:“我們沒有發(fā)現(xiàn)任何與死亡的明確聯(lián)系,但的確發(fā)現(xiàn)了一些普通人群中罕見的基因!睘榱肆炕疍NA變化可能帶來的不利影響,研究人員為這三個群體進行了致病性評分計算。
遺傳標記
在人類擁有的數(shù)千個基因中,并非每個基因都同樣重要;蚋淖兪窃诩毎至押蛷椭茣r被引入DNA的,它們可能是無足輕重的,也可能是致命的,或者是介于兩者之間的。雖然單個基因的較大變化可能表明其不重要,但更多的基因保持著穩(wěn)定,預示著它對生物生存和整體健康的重要性。通過評估人群中某一基因的常見或不常見的遺傳變異,研究人員可以計算出這些變化的危害程度。
與對照組相比,嬰兒死亡案例中的缺失基因的致病性得分要高得多。此外,這些升高的分數(shù)與自閉癥兒童中的分數(shù)相似。這表明患有SUDP的兒童與自閉癥一樣,似乎在基因上是不同的,各種異常的基因改變可能是SUDP病例的原因。Brownstein表示,這些潛在的結(jié)論需要進行進一步評估來證實。
總的來說,在12.1%的死亡病例中觀察到了致病性或潛在的致病性變異,同時還有較高的致病性評分。對這些新的基因變化的觀察,為更詳盡的測序工作提供了新的支持。早先,已經(jīng)發(fā)現(xiàn)部分這些基因變異中與神經(jīng)發(fā)育遲緩、自閉癥、多動癥和精神分裂癥相關。Brownstein說:“我們的發(fā)現(xiàn)表明,在對SUDP進行遺傳評估時,應考慮染色體微陣列測試!
但Brownstein也提醒說:到目前為止,基因組中的這些改變還不能確定為是這些兒童突然死亡的原因。該團隊希望通過對更多病例的進一步基因測試,更好地了解沒有明確原因的幼兒死亡的風險因素。
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